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SCIE
SCOPUS
Native defect clustering-induced carrier localization centers leading to a reduction of performance in Ga0.70In0.30N/GaN quantum wells
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open access
Han, Dong-Pyo; Kim, Jiwon; Shin, Dong-Soo; Shim, Jong-In
Article
Issue Date
2023
Citation
Optics Express, v.31, no.10, pp.15779 - 15790
Publisher
Optical Society of America
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