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멀티 레벨 셀 NAND 플래시 메모리의 셀 간 간섭 영향을 감소시키기 위한 문턱 전압 제어 방법

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dc.contributor.author이형간-
dc.contributor.author김성래-
dc.contributor.author이명규-
dc.contributor.author공준진-
dc.contributor.author신동준-
dc.date.accessioned2022-07-16T12:49:59Z-
dc.date.available2022-07-16T12:49:59Z-
dc.date.created2021-05-13-
dc.date.issued2012-11-
dc.identifier.urihttps://scholarworks.bwise.kr/hanyang/handle/2021.sw.hanyang/164206-
dc.description.abstract논문은 2-비트 4-레벨 셀 NAND 플래시 메모리에서 발생하는 인접 셀 간섭으로 인한 심벌 오류를 낮추기 위한 문턱 전압 제어 기법을 소개한다. 특정 셀의 프로그램 상태의 전압 분포를 가우시안 mixture로 가정하고, 인접 셀 간섭을 확률 모델링한다. 확률 모델을 이용하여 셀 간섭이 발생한 후의 문턱 전압을 우도(likelihood) 함수를 이용하여 찾아 문턱 전압 제어에 이용하여 셀 간섭 후 발생하는 오류를 최소화 한다.-
dc.language한국어-
dc.language.isoko-
dc.publisher한국통신학회-
dc.title멀티 레벨 셀 NAND 플래시 메모리의 셀 간 간섭 영향을 감소시키기 위한 문턱 전압 제어 방법-
dc.title.alternativeThe Threshold Voltage Control Method for Mitigating Cell-to-Cell Interference in Multi-Level Cell NAND Flash Memory-
dc.typeArticle-
dc.contributor.affiliatedAuthor신동준-
dc.identifier.bibliographicCitation한국통신학회 추계종합학술발표회, pp.79 - 80-
dc.relation.isPartOf한국통신학회 추계종합학술발표회-
dc.citation.title한국통신학회 추계종합학술발표회-
dc.citation.startPage79-
dc.citation.endPage80-
dc.type.rimsART-
dc.type.docTypeProceeding-
dc.description.journalClass2-
dc.description.isOpenAccessN-
dc.description.journalRegisteredClassother-
dc.identifier.urlhttps://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE02146392-
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Shin, Dong-Joon
COLLEGE OF ENGINEERING (SCHOOL OF ELECTRONIC ENGINEERING)
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