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전자빔 조사된 GaN 에피층의 결함분포에 특성 분석
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김은규 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-08-03T23:23:05Z | - |
| dc.date.available | 2021-08-03T23:23:05Z | - |
| dc.date.created | 2021-06-30 | - |
| dc.date.issued | 2008-08-21 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/hanyang/handle/2021.sw.hanyang/64093 | - |
| dc.publisher | 한국진공학회 | - |
| dc.title | 전자빔 조사된 GaN 에피층의 결함분포에 특성 분석 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 김은규 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 제35회 한국진공학회 하계정기학술대회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 제35회 한국진공학회 하계정기학술대회 | - |
| dc.citation.title | 제35회 한국진공학회 하계정기학술대회 | - |
| dc.citation.conferencePlace | 라마다프라자 제주호텔 | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
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Collections - 서울 자연과학대학 > 서울 물리학과 > 2. Conference Papers
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