지표면 산란 계수 예측을 위한 정확한 지표면 거칠기 변수 측정 방법 및 오차 분석Precise Measurement Method and Error Analysis with Roughness Variables for Estimation of Scattering Coefficients
- Other Titles
- Precise Measurement Method and Error Analysis with Roughness Variables for Estimation of Scattering Coefficients
- Authors
- 권순구; 황지환; 오이석; 홍성욱
- Issue Date
- 2013
- Publisher
- 한국전자파학회
- Keywords
- Surface Roughness; RMS Height; Correlation Length; Scattering Coefficients
- Citation
- 한국전자파학회 논문지, v.24, no.1, pp.91 - 97
- Journal Title
- 한국전자파학회 논문지
- Volume
- 24
- Number
- 1
- Start Page
- 91
- End Page
- 97
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/hongik/handle/2020.sw.hongik/18055
- DOI
- 10.5515/KJKIEES.2013.24.1.91
- ISSN
- 1226-3133
- Abstract
- 지표면의 후방 산란 계수를 계산하는 지표면 산란 모델의 입력 변수로는 크게 수분함유량과 지표면 거칠기가 있고, 산란 계수 계산에 있어 지표면 거칠기의 영향이 수분함유량의 영향보다 크다. 본 연구에서는 지표면 거칠기의 정확한 측정 방법을 제기하고, 측정 오차를 분석한다. 이를 위하여 대표적인 지표면 거칠기 측정 장치인 pin-board profiler(1 m, 0.5 cm 간격)와 laser profiler(1 m, 0.25 cm 간격)를 이용하여 실제 지표면을 측정하였다. 두 측정 장치의 평균 차이는 유효 높이(RMS height)가 0.097 cm, 상관 길이(correlation length)가 1.828 cm이었다. 그리고 상관 함수, 상대오차를 분석한 결과, laser-profiler의 반복 측정에 대한 장치의 안전성이 더 좋았다. 두 측정 장치의 차이가 후방 산란 계수에 미치는 영향을 분석하기 위해 지표면 산란 모델을 이용하여 비교한 결과, 입사각 20~60°에서 1 dB 이하의 차이를 보였다.
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