DRAM 셀 파라메터의 확률 분포를 고려한 데이터보유시간의 분포 특성Distribution Characteristics of Data Retention Time Considering the Probability Distribution of Cell Parameters in DRAM
- Other Titles
- Distribution Characteristics of Data Retention Time Considering the Probability Distribution of Cell Parameters in DRAM
- Authors
- 이경호; 이기영
- Issue Date
- 2002
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- Semiconductor; DRAM; 셀 캐패시터; 데이터 보유 시간; Cumulative failure bit
- Citation
- 전자공학회논문지 - SD, v.39, no.4, pp.1 - 9
- Journal Title
- 전자공학회논문지 - SD
- Volume
- 39
- Number
- 4
- Start Page
- 1
- End Page
- 9
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/hongik/handle/2020.sw.hongik/27063
- ISSN
- 1229-6368
- Abstract
- DRAM에서 셀 파라메터들의 확률 분포를 고려하여 데이터 보유 시간에 대한 분포 특성을 계산하였다. 셀 파라메터와 셀 내부 전압의 과도 특성으로부터 데이터 보유 시간의 식을 유도하였다. 접합 공핍 영역에서 발생하는 누설 전류의 분포 특성은 재결합 트랩의 에너지 분포로, 셀 캐패시턴스 분포 특성은 유전체 성장에서 표면 반응 에너지의 분포 특성으로, 그리고 sense amplifer의 감도를 각각의 독립적인 확률 변수로 보고, monte carlo 시뮬레이션을 이용하여, 셀 파라메터 값들의 확률적 분포와, DRAM 셀들의 데이터 보유 시간에 대하여cumulative failure bit의 분포함수를 계산하였다. 특히 sense amplifier의 감도 특성이 데이터 보유 시간 분포의 tail bit에 상당히 영향을 미침을 보였다.
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