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신축 전자패키지 배선용 금속박막의 신축변형-저항 특성 II. Au, Pt 및 Cu 박막의 특성 비교

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dc.contributor.author박동현-
dc.contributor.author오태성-
dc.date.available2020-07-10T05:36:43Z-
dc.date.created2020-07-06-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.issn1226-9360-
dc.identifier.urihttps://scholarworks.bwise.kr/hongik/handle/2020.sw.hongik/6426-
dc.description.abstractPolydimethylsiloxane (PDMS) 기판과 금속박막 사이의 중간층으로 parylene F를 사용한 신축패키지 구조에서Au, Pt, Cu 박막의 신축변형에 따른 저항변화를 분석하였다. Parylene F 중간층을 코팅한 PDMS 기판에 스퍼터링한150 nm 두께의 Au 박막과 Pt 박막은 각기 1.56 Ω 및 5.53 Ω의 초기저항을 나타내었으며, 30% 인장변형률에서 각 박막의 저항증가비 ΔR/R o은 각기 7 및 18로 측정되었다. Cu 박막은 18.71 Ω의 높은 초기저항을 나타내었으며 인장변형에 따라 저항이 급격히 증가하다 5% 인장변형률에서 open 되어, Au 박막과 Pt 박막에 비해 매우 열등한 신축 특성을 나타내었다.-
dc.language한국어-
dc.language.isoko-
dc.publisher한국마이크로전자및패키징학회-
dc.title신축 전자패키지 배선용 금속박막의 신축변형-저항 특성 II. Au, Pt 및 Cu 박막의 특성 비교-
dc.title.alternativeStretchable Deformation-Resistance Characteristics of Metal Thin Films for Stretchable Interconnect Applications II. Characteristics Comparison for Au, Pt, and Cu Thin Films-
dc.typeArticle-
dc.contributor.affiliatedAuthor오태성-
dc.identifier.bibliographicCitation마이크로전자 및 패키징학회지, v.24, no.3, pp.19 - 26-
dc.relation.isPartOf마이크로전자 및 패키징학회지-
dc.citation.title마이크로전자 및 패키징학회지-
dc.citation.volume24-
dc.citation.number3-
dc.citation.startPage19-
dc.citation.endPage26-
dc.type.rimsART-
dc.identifier.kciidART002275693-
dc.description.journalClass2-
dc.description.journalRegisteredClasskci-
dc.subject.keywordAuthorstretchable packaging-
dc.subject.keywordAuthorstretchable interconnect-
dc.subject.keywordAuthormetal thin film-
dc.subject.keywordAuthorPDMS-
dc.subject.keywordAuthorparylene-
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College of Engineering > Materials Science and Engineering Major > 1. Journal Articles

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