다이아몬드 FETs에서 전기적 바이어스 방법을 이용한 단일염기 다형성(SNPs) 검출
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 송광섭 | - |
dc.date.available | 2021-04-29T08:43:16Z | - |
dc.date.created | 2020-06-16 | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.issn | 2287-5026 | - |
dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/kumoh/handle/2020.sw.kumoh/19178 | - |
dc.description.abstract | 돌연변이 및 유전병의 원인이 되고 있는 유전자 단일염기 다형성(single nucleotide polymorphisms; SNPs) 검출은 조기진단, 치료 및 제약등 바이오관련 분야에서 매우 중요하다. SNPs 검출을 위한 방법은 다양하게 제시되고 있으나 상보적 DNA와SNPs의 에너지 차이가 미세하여 SNPs 검출에는 많은 어려움이 존재한다. 본 논문에서는 SNPs를 검출하기 위하여 전하 검출형 전계효과 트랜지스터(field-effect transistors; FETs)를 이용하여 DNA가 가지고 있는 음전하 측정 방법으로 SNPs를 검출하였다. 상보적 DNA와 SNPs의 미세한 에너지 차이를 구분하기 위하여 타게트 DNA hybridization공정에서 드레인-소스 전극에 -0.3 V의 음전압을 인가하였다. 음전압 인가에 따라 DNA 자체 음전하와 센서 표면의 음전압의 전기적 반발력에 의해 센서에 검출되는 타게트 DNA hybridization 신호 크기는 감소하였으나 상보적 DNA와 SNPs의 신호 차는 1.7 ㎷에서 8.7 ㎷로 5 배 이상 증가하여 검출되었다. | - |
dc.language | 한국어 | - |
dc.language.iso | ko | - |
dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
dc.title | 다이아몬드 FETs에서 전기적 바이어스 방법을 이용한 단일염기 다형성(SNPs) 검출 | - |
dc.title.alternative | Detection of SNPs using electrical biased method on diamond FETs | - |
dc.type | Article | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 송광섭 | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지, v.52, no.3, pp.190 - 196 | - |
dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 | - |
dc.citation.title | 전자공학회논문지 | - |
dc.citation.volume | 52 | - |
dc.citation.number | 3 | - |
dc.citation.startPage | 190 | - |
dc.citation.endPage | 196 | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.identifier.kciid | ART001972569 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
dc.subject.keywordAuthor | 다이아몬드 필름 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 전계효과 트랜지스터(FETs) | - |
dc.subject.keywordAuthor | 전하검출형 | - |
dc.subject.keywordAuthor | DNA | - |
dc.subject.keywordAuthor | SNPs | - |
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