2차원 소자 시뮬레이터를 이용한 비정질 셀레늄(a-Se) 분석Study of The Amorphous Selenium (a-Se) using 2-dimensional Device Simulator
- Other Titles
- Study of The Amorphous Selenium (a-Se) using 2-dimensional Device Simulator
- Authors
- 김시형; 김창만; 남기창; 김상희; 송광섭
- Issue Date
- 2012
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- X-ray detector; direct method; photoconductor; a-Se; 2-dimensional device simulator
- Citation
- 전자공학회논문지, v.49, no.10, pp.187 - 193
- Journal Title
- 전자공학회논문지
- Volume
- 49
- Number
- 10
- Start Page
- 187
- End Page
- 193
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/kumoh/handle/2020.sw.kumoh/19212
- ISSN
- 2287-5026
- Abstract
- 디지털 X-ray 영상 디텍터는 의료용 및 산업용으로 널리 이용되고 있다. 직접방식(direct method)의 디지털 X-ray 영상 디텍터는 X-ray 에너지를 전기적 신호로 변환하기 위하여 광도전체(photoconductor)를 이용하며 일반적으로 비정질 셀레늄 (a-Se)을 사용하고 있다. 본 연구는 비정질 셀레늄 표면에 파장 486 ㎚의 전자방사선을 조사할 경우 내부에서 일어나는 물리적 현상들을 분석하기 위하여 2차원 소자 시뮬레이터을 이용하였다. 시뮬레이션 결과를 통해 비정질 셀레늄 내부 전자-정공 생성율, 전자-정공 재결합율, 전자/정공 분포에 대한 분석을 수행하였다. 사용된 시뮬레이터는 디바이스 내부를 삼각형으로 나누어 보간법을 사용하여 계산하는 방식이다. 본 시뮬레이션 방법은 직접방식 디지털 X-ray 영상 디텍터 분석을 위하여 처음으로 제안되었고 유용한 방법이다. 이러한 2차원 소자 시뮬레이터를 이용한 연구방법은 향후 디지털 방사선 영상 디텍터 개발에 많이 응용될 것으로 예상된다.
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