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온도 스트레스에 따른 TFT-LCD 모듈의 수명 예측에 관한 연구
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이순호 | - |
| dc.contributor.author | 정훈주 | - |
| dc.date.accessioned | 2023-12-11T12:00:31Z | - |
| dc.date.available | 2023-12-11T12:00:31Z | - |
| dc.date.issued | 2009 | - |
| dc.identifier.issn | 1598-8619 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/kumoh/handle/2020.sw.kumoh/23006 | - |
| dc.description.abstract | 본 논문에서는 TFT-LCD 모듈의 수명을 예측하기 위해 온도를 가속 인자로 사용하여 TFT-LCD 모듈의 가속 시험을 진행하였다. 가속 수명 시험 조건에서 TFT-LCD 모듈의 열화에 의한 고장 유형으로 패널 얼룩이 발생하였다. 주위 온도 50℃와 60℃에서의 가속 시험에서 TFT-LCD 모듈의 얼룩에 대한 활성화 에너지는 0.95 eV이였고 아레니우스 모형을 사용한 주위 온도 50℃와 60℃에서의 가속 계수는 7.55 및 16.6이였다. 이를 이용하여 예측한 TFT-LCD 모듈의 화면 얼룩 발생에 대한 평균 수명은 상온에서 2.92년이였다. | - |
| dc.format.extent | 7 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | KOR | - |
| dc.publisher | 한국정보기술학회 | - |
| dc.title | 온도 스트레스에 따른 TFT-LCD 모듈의 수명 예측에 관한 연구 | - |
| dc.title.alternative | Study on Lifetime Estimation of TFT-LCD Modules by Temperature Stress | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.publisher.location | 대한민국 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 한국정보기술학회논문지, v.7, no.5, pp 1 - 7 | - |
| dc.citation.title | 한국정보기술학회논문지 | - |
| dc.citation.volume | 7 | - |
| dc.citation.number | 5 | - |
| dc.citation.startPage | 1 | - |
| dc.citation.endPage | 7 | - |
| dc.identifier.kciid | ART001385802 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Arrhenius model | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Activation energy | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Acceleration factor | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Lifetime prediction | - |
| dc.subject.keywordAuthor | TFT-LCD module | - |
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