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AMOLED 디스플레이에서 TFT의 히스테리시스에 의해 발생하는 잔상 개선Improvement of Residual Image Induced by Hysteresis of Thin Film Transistors in AMOLED Displays
- Other Titles
- Improvement of Residual Image Induced by Hysteresis of Thin Film Transistors in AMOLED Displays
- Issue Date
- 2010
- Publisher
- 한국정보기술학회
- Keywords
- AMOLED; TFT; hysteresis; residual image
- Citation
- 한국정보기술학회논문지, v.8, no.2, pp 27 - 33
- Pages
- 7
- Journal Title
- 한국정보기술학회논문지
- Volume
- 8
- Number
- 2
- Start Page
- 27
- End Page
- 33
- ISSN
- 1598-8619
- Abstract
- 본 논문에서는 AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode) 디스플레이에서 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor, TFT)의 히스테리시스 현상에 의해 발생하는 잔상을 개선하기 위한 구동 방식을 제안하였다. 제안한 구동 방식의 화소 구조는 2개의 TFT와 한 개의 정전용량만을 사용하여 개구율이 큰 장점이 있다. 구동 TFT의 히스테리시스 현상을 줄이기 위해 화면 구동 사이에 검정 화면을 삽입하여 구동 TFT를 초기화하였다. 발광효율 75%에서 제안한 구동방식은 기존 2T1C 화소 구조보다 구동 TFT 소자의 히스테리시스 현상에 의한 전류 차이를 78.3% 감소시켰다. 따라서 제안한 구동 방식은 TFT 소자의 히스테리시스 현상에 의해 발생하는 잔상 현상을 개선시킬 뿐만 아니라 동영상 구동에서 더 좋은 화질 특성을 표현할 수 있다.
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Collections - School of Electronic Engineering > 1. Journal Articles
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