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백색광간섭계를 이용한 알루미늄 박막의 인장 물성 측정

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dc.contributor.author김상교-
dc.contributor.author오충석-
dc.contributor.author이학주-
dc.date.accessioned2023-12-11T12:00:33Z-
dc.date.available2023-12-11T12:00:33Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.issn1225-7842-
dc.identifier.issn2287-402X-
dc.identifier.urihttps://scholarworks.bwise.kr/kumoh/handle/2020.sw.kumoh/23056-
dc.description.abstract박막은 마이크로 전자 장치, 자기 기록 매체, 미세 기전 시스템 및 표면 코팅과 같은 다양한 응용에 있어서 매우 중요한 역할을 수행하는 재료이다. 이러한 박막의 재료 물성 값은 상응하는 거시 재료의 물성 값과 다를 수 있기 때문에 박막의 기계적 물성 값들을 신뢰성 있게 측정할 수 있는 시험법의 개발이 요구되어져 왔다. 본 연구에서는 종래의 막 처짐 시험법과 단축 인장 시험법의 한계성을 극복하기 위해 나노미터 이하의 면외 변위 측정 분해능을 갖는 백색광 간섭계를 채택한 새롭고 간편한 시험법을 개발하였다. 개발된 시험법의 유효성을 검증해 보기 위하여 스퍼터링을 포함한 마이크로 공정에 의해 자유지지 알루미늄 박막 시험편을 제작한 뒤 이를 이용하여 인장 물성 값을 측정하였다. 폭 0.5mm, 두께 1μm인 시험편을 실리콘 다이 상에 1~5개 제작하여 사용하였다. 모터 구동 팁, 하중계 및 6 자유도 정렬 장치로 구성된 시험기를 자체적으로 제작한 뒤 막 처짐 시험을 수행하였다. 시험기는 가능한 작게 제작하여 상용 백색광 간섭 현미경 아래에 설치 가능하도록 하였다. 백색광 간섭무늬를 이용하여 시험편과 시험기 사이의 정렬 맞춤을 수행하였다. 영 계수는 62GPa, 항복점은 247MPa로 측정되었다.-
dc.format.extent8-
dc.language한국어-
dc.language.isoKOR-
dc.publisher한국비파괴검사학회-
dc.title백색광간섭계를 이용한 알루미늄 박막의 인장 물성 측정-
dc.title.alternativeMeasurement of Tensile Properties for Thin Aluminium Film by Using White Light Interferometer-
dc.typeArticle-
dc.publisher.location대한민국-
dc.identifier.bibliographicCitation비파괴검사학회지, v.30, no.5, pp 471 - 478-
dc.citation.title비파괴검사학회지-
dc.citation.volume30-
dc.citation.number5-
dc.citation.startPage471-
dc.citation.endPage478-
dc.identifier.kciidART001490622-
dc.description.isOpenAccessN-
dc.description.journalRegisteredClasskci-
dc.subject.keywordAuthor알루미늄 박막-
dc.subject.keywordAuthor막 처짐 실험-
dc.subject.keywordAuthor인장 물성-
dc.subject.keywordAuthor백색광 간섭계-
dc.subject.keywordAuthor항복점-
dc.subject.keywordAuthor영 계수-
dc.subject.keywordAuthorAluminium Thin Film-
dc.subject.keywordAuthorMembrane Deflection Experiment-
dc.subject.keywordAuthorTensile Properties-
dc.subject.keywordAuthorWhite Light Interferometer-
dc.subject.keywordAuthorYield Point-
dc.subject.keywordAuthorYoung's Modulus-
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