측면조명을 이용한 LCD 백라이트 불량검출 시스템
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 신윤식 | - |
dc.contributor.author | 문창배 | - |
dc.contributor.author | 박지웅 | - |
dc.contributor.author | 이해연 | - |
dc.contributor.author | 김병만 | - |
dc.date.available | 2020-04-24T13:25:48Z | - |
dc.date.created | 2020-04-03 | - |
dc.date.issued | 2010 | - |
dc.identifier.issn | 2287-5905 | - |
dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/kumoh/handle/2020.sw.kumoh/2786 | - |
dc.description.abstract | LCD 모니터의 백라이트로 CCFL 형광체를 많이 사용하고 있으나 그 불량여부는 육안에 의존하고 있다. 육안 검사를 함으로써 부품에 대한 일관성 있는 검사가 결여되고, 노동집약적인 검사로 인해 산업적 재해가 발생할 수 있다. 따라서, CCFL 불량유무를 자동으로 판별하기 위해서 물리적 촬영 환경과 영상처리 알고리즘은 중요하다. 본 논문에서는 CCFL 형광체를 자동으로 검사하기 위한 촬영환경 중 다섯 가지 조건과 세 가지조건 중 두 조건모두에서 사용되는 측면 촬영환경에서 획득한 영상을 이용하여 불량을 판별하기 위한 알고리즘을 제시하였다. 불량을 포함한 CCFL 형광체와 정상시료를 사용하여 영상 획득 및 실험을 수행하였고, 그 결과 제안한 촬영환경과 알고리즘은 과검율 4.65 %와 유출률 5.37 %의 성능을 보인다. | - |
dc.language | 한국어 | - |
dc.language.iso | ko | - |
dc.publisher | 한국정보처리학회 | - |
dc.title | 측면조명을 이용한 LCD 백라이트 불량검출 시스템 | - |
dc.title.alternative | LCD BLU Defects Detection System with Sidelight | - |
dc.type | Article | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 신윤식 | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 이해연 | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 김병만 | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 정보처리학회논문지. 소프트웨어 및 데이터 공학, v.17, no.6, pp.445 - 458 | - |
dc.citation.title | 정보처리학회논문지. 소프트웨어 및 데이터 공학 | - |
dc.citation.volume | 17 | - |
dc.citation.number | 6 | - |
dc.citation.startPage | 445 | - |
dc.citation.endPage | 458 | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.identifier.kciid | ART001514832 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.subject.keywordAuthor | CCFL 형광체 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 물리적 촬영환경 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 불량판별 알고리즘 | - |
dc.subject.keywordAuthor | CCFL Fluorescent Substance | - |
dc.subject.keywordAuthor | Shooting Environment | - |
dc.subject.keywordAuthor | Defects Detection Algorithm | - |
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