Han, S.W.[Han, S.W.]; Park, E.J.[Park, E.J.]; Jeong, M.-G.[Jeong, M.-G.]; Kim, I.H.[Kim, I.H.]; Seo, H.O.[Seo, H.O.]; Kim, J.H.[ Kim, J.H.]; Kim, K.-D.[ Kim, K.-D.]; Kim, Y.D.[Kim, Y.D.]
ArticleIssue Date2017CitationAPPLIED SURFACE SCIENCE, v.400, pp.405 - 412PublisherELSEVIER SCIENCE BV