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근거리 전자장 스캐닝 시스템의 잡음 대 성능 비 향상 기술Enhancement Technologies of Signal-to-Noise Ratioin the Near-Field Scanning Systems
- Other Titles
- Enhancement Technologies of Signal-to-Noise Ratioin the Near-Field Scanning Systems
- Issue Date
- Jun-2018
- Publisher
- 한국전기전자학회
- Keywords
- EMC; EMI; NFS; NFP; IEC 61967; IEC 62508
- Citation
- 전기전자학회논문지, v.22, no.2, pp.510 - 513
- Journal Title
- 전기전자학회논문지
- Volume
- 22
- Number
- 2
- Start Page
- 510
- End Page
- 513
- ISSN
- 1226-7244
- Abstract
- 최근 전자파 적합성(EMC: electromagnetic compatibility)의 중요성이 매우 높아짐에 따라 칩 수준에서의 전자파 간섭(EMI: electromagnetic interference) 측정이 자주 요구되고 있다. IEC 61967 및 IEC 62508에서 규정된 근거리 전자장 스캐닝(NFS: near-field scanning) 시스템은 칩 레벨에서의 전자파 간섭을 분석하는 대표적인 방법이다. 칩이 점점 고속화되면서 근거리 전자장 스캐닝 시스템의 측정 주파수는 광대역화되어야 하지만 근거리 전자장 탐침(NFP: near-field probe)의 신호 대 잡음 비(SNR: signal-to-noise ratio)가 저하된다는 문제가 있다. 본 논문에서는 근거리 전자장 스캐닝 시스템에서 광대역 특성을 가지면서도 잡음 대 성능 비를 향상시키는 기술에 대해 살펴본다.
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- Appears in
Collections - College of Information Technology > ETC > 1. Journal Articles
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Related Researcher
- Lee, Seong soo
- College of Information Technology (Department of Electronic Engineering)