ScholarWorks@Hanyang University ERICA Campus: Browsing ScholarWorks

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노화 모니터링 및 소프트 에러 회복 플립플롭 구조

박성주; 김영성; 김두영; 정지훈

ConferenceIssue Date2016Place대한민국

다중 전원 영역 기반 SoC의 모듈러 스캔 테스트를 위한 IEEE std. 1149.1-2013 기반의 테스트 전원 제어 기술

박성주; 김영성; 김두영; 정지훈; 김진욱

ConferenceIssue Date2017Place대한민국

테스트 시간 효율을 위한 적층 반도체 테스트 구조

박성주; 김영성; 김두영; 정지훈; Ansari, Adil

ConferenceIssue Date2016

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