DDR4 DIMM의 데이터 패턴에 따른 I/O 마진의 변화

Abstract

최근 메모리가 고속, 고집적화 되고 DDR4에 이르러 단일 채널의 속도가 2 Gbps 이상에 도달하였다. 이에 따라 DDR4 메모 리 DIMM(dual in-line memory module)의 경우 대단위 데이터 센터와 클라우드 서비스의 확대에 따라서 다수의 메모리가 고 온, 고속으로 동작하는 환경에 노출되었다. 메모리 테스트에 있어서도 저속에서의 측정만으로는 현장에서의 결함을 판단하는데 한계가 나타났다. 본 논문에서는 메모리 I/O 마진 측정에 있어서 패턴 종류, 길이에 따라 그 결과가 달라질 수 있다는 것을 실 험의 결과로 보여준다.