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데이터 압축 기술 기반의 핀 수 절감 테스트 기술
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.date.accessioned | 2025-04-01T09:01:54Z | - |
| dc.date.available | 2025-04-01T09:01:54Z | - |
| dc.date.issued | 2013-05 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/123107 | - |
| dc.description.abstract | 스캔테스트 기술 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | KOR | - |
| dc.title | 데이터 압축 기술 기반의 핀 수 절감 테스트 기술 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.citation.title | 대한전자공학회 SoC 학술대회 | - |
| dc.citation.startPage | 1 | - |
| dc.citation.endPage | 4 | - |
| dc.citation.conferencePlace | 대한민국 | - |
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Collections - COLLEGE OF COMPUTING > SCHOOL OF COMPUTER SCIENCE > 2. Conference Papers
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