노화 모니터링 및 소프트 에러 회복 플립플롭 구조

Abstract

과거 자동차, 의료, 항공 등의 기술들은 안정성의 문제로 인하여 기계 또는 사람의 손으로만 이루어 졌다. 최근 들어 여러 IT 기술의 발달로 많은 부분이 디지털 시스템으로 대체되고 있다. 그러나 반도체로 구성된 디지털 시스템은 외부 압력, 열, 전자파 등의 외부 환경으로 인한 결함이 발생할 수 있으며, 이는 사람의 생명을 다루는 시스템에서 매우 치명적이다. 따라서 상기 시스템에서는 반도체의 높은 안정성과 신뢰성을 요구한다. 기존 노화 모니터링 구조와 소프트 에러 회복 구조는 안정성과 신뢰성을 높였으며, 두 구조를 따로 사용할 때 몇몇 문제들이 발생할 수 있다. 본 논문에서는 두 가지 구조를 하나로 합친 노화 모니터링 및 소프트 에러 회복 플립플롭 구조를 통해 문제를 결하였다. 또한 50 nm BSIM library를 이용하여 H-spice를 통해 분석한 결과 전력소모가 줄어든 것을 확인하였다.