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비트라인을 이용한 메모리 셀 간의 연결 고장 테스트하기 위한 반도체회로 및 그 테스트 방법
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 백상현[백상현] | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T09:01:24Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T09:01:24Z | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/35471 | - |
| dc.title | 비트라인을 이용한 메모리 셀 간의 연결 고장 테스트하기 위한 반도체회로 및 그 테스트 방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 백상현[백상현] | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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Collections - COLLEGE OF ENGINEERING SCIENCES > SCHOOL OF ELECTRICAL ENGINEERING > 4. Patents
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- Baeg, Sanghyeon
- ERICA 공학대학 (SCHOOL OF ELECTRICAL ENGINEERING)