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AMBA AXI 기반의 효율적인 SoC 테스트 제어기 설계
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이준섭 | - |
| dc.contributor.author | 정혜란 | - |
| dc.contributor.author | Ansari, M. A. | - |
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T15:38:59Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T15:38:59Z | - |
| dc.date.created | 2021-02-18 | - |
| dc.date.issued | 2009-05 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/41227 | - |
| dc.description.abstract | 본 논문에서는 ARM사에서 Network-on-Chip(NoC)로의 흐름에 따라 제안한 AMBA AXI 기반 SoC를 효율적으로 테스트 할 수 있는 테스트 제어기를 제안한다. 제안하는 방법은 AXI를 Test Access Mechanism(TAM)으로 재활용한다. 기존의 테스트 제어기를 효율적으로 변경하여 기존의 테스트 장비와 테스트 방법을 수정하지 않고 적용이 가능하다. | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
| dc.title | AMBA AXI 기반의 효율적인 SoC 테스트 제어기 설계 | - |
| dc.title.alternative | An Efficient Test Controller Design for SoC Based on AMBA AXI | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 대한전자공학회 2009년 SoC 학술대회, pp.146 - 149 | - |
| dc.relation.isPartOf | 대한전자공학회 2009년 SoC 학술대회 | - |
| dc.citation.title | 대한전자공학회 2009년 SoC 학술대회 | - |
| dc.citation.startPage | 146 | - |
| dc.citation.endPage | 149 | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.description.journalClass | 3 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | other | - |
| dc.subject.keywordAuthor | SoC | - |
| dc.subject.keywordAuthor | NoC | - |
| dc.subject.keywordAuthor | scan test | - |
| dc.identifier.url | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE01229212 | - |
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