AES 코아의 비밀키 보호를 위한 새로운 시큐어 스캔 설계 기술

Abstract

본 논문은 Advanced Encryption Standard(AES) 암호화 코아가 내장된 System-on-a-Chip(SoC)을 스캔 설계 기반 테스트 시 발생할 수 있는 비밀 키 정보 누출 방지를 위한 효과적인 기술을 제안한다. SoC 상의 IEEE1149.1 제어기 표준을 유지하며 기존 방식보다 적은 면적 오버헤드와 전력 소모 및 높은 고장 검출율을 갖는 기술을 제안한다.

This paper presents a new secure scan design technique to protect secret key of an Advanced Encryption Standard(AES) core embedded on an System-on-a-Chip(SoC). Our technique keeps the IEEE1149.1 standard and shows low area and power consumption overheads and high fault coverage compared to the existing methods.