Detailed Information
Cited 0 time in 
Cited 0 time in 
Cited 0 time in
Metadata Downloads
천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계
Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김기태 | - |
| dc.contributor.author | 이현빈 | - |
| dc.contributor.author | 김진규 | - |
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T20:06:27Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T20:06:27Z | - |
| dc.date.created | 2021-02-01 | - |
| dc.date.issued | 2007-11 | - |
| dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/43986 | - |
| dc.description.abstract | SoC의 집적도와 동작 속도의 증가로 인하여 지연 고장 테스트의 중요성이 더욱 커지고 있다. 본 논문은 천이 지연 고장 테스트를 지원하는 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 구조와 IEEE 1149.1 TAP 제어기를 이용하기 위한 인터페이스 회로를 제시하고, 이를 이용한 테스트 방법을 제안 한다. 제안 하는 셀 구조는 한 번의 테스트 명령어를 이용하여 상승 지연 고장 테스트와 하강 지연 고장 테스트를 연속적으로 수행 할 수 기능을 유지하면서 기존의 셀 구조에 비하여 적은 면적 오버헤드를 가지며 테스트 시간을 줄일 수 있다. 또한 다른 클럭으로 동작하는 코어에 대한 테스트를 동시에 수행 할 수 있다. | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
| dc.title | 천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계 | - |
| dc.title.alternative | Design of Enhanced IEEE 1500 Wrapper Cell and Interface Logic For Transition Delay Fault Test | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.44, no.11, pp.109 - 118 | - |
| dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.volume | 44 | - |
| dc.citation.number | 11 | - |
| dc.citation.startPage | 109 | - |
| dc.citation.endPage | 118 | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.identifier.kciid | ART001215532 | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Transition delay fault | - |
| dc.subject.keywordAuthor | SoC | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1500 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | wrapper (1013) | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Transition delay fault | - |
| dc.subject.keywordAuthor | SoC | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1500 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | wrapper (1013) | - |
| dc.identifier.url | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00917728 | - |
- Files in This Item
- Go to Link
- Appears in
Collections - COLLEGE OF COMPUTING > SCHOOL OF COMPUTER SCIENCE > 1. Journal Articles
Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.