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저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이현빈 | - |
| dc.contributor.author | 김진규 | - |
| dc.contributor.author | 정태진 | - |
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T20:06:30Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T20:06:30Z | - |
| dc.date.created | 2021-02-01 | - |
| dc.date.issued | 2007-11 | - |
| dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/43988 | - |
| dc.description.abstract | 본 논문에서는 저비용 SoC 테스트를 위한 테스트 설계 기술에 대해서 다룬다. IEEE 1500 랩드 코어를 SoC TAP (Test Access Port) 을 통하여 스캔 테스트를 수행하는 방법을 제시하고, 지연고장 테스트를 위한 테스트 클럭 생성회로를 설계한다. TAP의 신호만을 이용하여 SoC 테스트를 수행함으로써 테스트 핀 수를 줄일 수 있고, SoC 내부의 회로를 사용하여 지연고장 테스트를 수행함으로써 저가의 테스트 장비를 사용할 수 있다. 실험을 통하여 제시한 방식의 효율성을 평가하고, 서로 다른 주파수의 클럭을 사용하는 여러 코어의 지연고장 테스트를 동시에 수행 할 수 있음을 확인한다 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
| dc.title | 저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어 | - |
| dc.title.alternative | IEEE 1500 Wrapper and Test Control for Low-Cost SoC Test | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.44, no.11, pp.65 - 73 | - |
| dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.volume | 44 | - |
| dc.citation.number | 11 | - |
| dc.citation.startPage | 65 | - |
| dc.citation.endPage | 73 | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.identifier.kciid | ART001215270 | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Design for test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1500 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | at-speed test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | System-on-chip (969) | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Design for test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1149.1 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | IEEE 1500 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | at-speed test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | System-on-chip (969) | - |
| dc.identifier.url | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00917722 | - |
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