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AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T21:38:45Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T21:38:45Z | - |
| dc.date.created | 2021-02-18 | - |
| dc.date.issued | 2006-06 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/44788 | - |
| dc.description.abstract | AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 한국 테스트 협회 | - |
| dc.title | AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘 | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 제 7회 한국 테스트 학술대회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 제 7회 한국 테스트 학술대회 | - |
| dc.citation.title | 제 7회 한국 테스트 학술대회 | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.description.journalClass | 3 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | other | - |
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