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System-on-a-chip 테스트 주입시간 및 테스트 전력 감소를 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 기술
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T22:02:43Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T22:02:43Z | - |
| dc.date.created | 2021-02-18 | - |
| dc.date.issued | 2006-02 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/45023 | - |
| dc.description.abstract | SoC 상에서 System-on-a-chip 테스트 주입시간 및 테스트 전력 감소를 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 기술 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 한국전자통신연구원 | - |
| dc.title | System-on-a-chip 테스트 주입시간 및 테스트 전력 감소를 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 기술 | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 제13회 한국반도체 학술대회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 제13회 한국반도체 학술대회 | - |
| dc.citation.title | 제13회 한국반도체 학술대회 | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.description.journalClass | 3 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | other | - |
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Collections - COLLEGE OF COMPUTING > SCHOOL OF COMPUTER SCIENCE > 1. Journal Articles
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