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저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 송재훈 | - |
| dc.contributor.author | 박성주 | - |
| dc.contributor.author | 김두영 | - |
| dc.contributor.author | 김기태 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-06-23T22:05:17Z | - |
| dc.date.available | 2021-06-23T22:05:17Z | - |
| dc.date.created | 2021-02-01 | - |
| dc.date.issued | 2006-10 | - |
| dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/45144 | - |
| dc.description.abstract | 오늘날 시스템 온 칩 테스트에 있어서 많은 양의 테스트 데이터, 시간 및 전력 소모는 매우 중요한 문제이다. 이러한 문제들을 해결하기 위해서 본 논문은 새로운 테스트 데이터 압축 기술을 제안한다. 우선, 테스트 큐브 집합에 있는 돈 캐어 비트에 저전력 테스트를 위한 비트할당을 한다. 그리고, 비트할당이 된 저전력 테스트 데이터의 압축효율을 높이기 위해 이웃 비트 배타적 논리합 변환을 사용하여 변환한다. 최종적으로, 변환된 테스트 데이터는 효과적으로 압축 됨으로써 테스트 장비의 저장 공간과 테스트 데이터 인가시간을 줄일 수 있게 된다. | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | ko | - |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
| dc.title | 저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법 | - |
| dc.title.alternative | An Efficient Technique to Improve Compession for Low-Power Scan Test Data | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.43, no.10, pp.104 - 110 | - |
| dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
| dc.citation.volume | 43 | - |
| dc.citation.number | 10 | - |
| dc.citation.startPage | 104 | - |
| dc.citation.endPage | 110 | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.identifier.kciid | ART001049277 | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | test data compression | - |
| dc.subject.keywordAuthor | low power | - |
| dc.subject.keywordAuthor | scan test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | soc test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | test data compression | - |
| dc.subject.keywordAuthor | low power | - |
| dc.subject.keywordAuthor | scan test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | soc test | - |
| dc.identifier.url | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00766496 | - |
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