AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘 설계
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 민필재 | - |
dc.contributor.author | 이현빈 | - |
dc.contributor.author | 송재훈 | - |
dc.contributor.author | 박성주 | - |
dc.date.accessioned | 2021-06-23T22:05:41Z | - |
dc.date.available | 2021-06-23T22:05:41Z | - |
dc.date.created | 2021-02-01 | - |
dc.date.issued | 2006-10 | - |
dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/erica/handle/2021.sw.erica/45162 | - |
dc.description.abstract | Advanced Microcontroller Bus Architecture (AMBA) 기반 System-on-Chip (SoC)에서는 기능적 테스트를 위해 ARM사의 Test Interface Controller (TIC)를 사용한다. 따라서 구조적 스캔 테스트 패턴도 TIC와 AMBA 버스를 통해 인가하면서 스캔 입력과 출력을 동시에 수행할 수 없다는 단점이 있다. 본 논문에서는 ARM 코어를 사용하는 SoC 테스트를 위한 AMBA based Test Access Mechanism (ATAM)을 제안한다. 기존 TIC와의 호환성을 유지하고 스캔 입력과 출력을 동시에 할 수 있으므로 고가의 Automatic Test Equipment (ATE)를 통한 테스트 시간을 대폭 절감할 수 있다. | - |
dc.language | 한국어 | - |
dc.language.iso | ko | - |
dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
dc.title | AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘 설계 | - |
dc.title.alternative | Design of Test Access Mechanism for AMBA based SoC | - |
dc.type | Article | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 박성주 | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.43, no.10, pp.74 - 79 | - |
dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
dc.citation.volume | 43 | - |
dc.citation.number | 10 | - |
dc.citation.startPage | 74 | - |
dc.citation.endPage | 79 | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.identifier.kciid | ART001049274 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.description.isOpenAccess | N | - |
dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
dc.subject.keywordAuthor | SoC Testing | - |
dc.subject.keywordAuthor | AMBA | - |
dc.subject.keywordAuthor | TIC | - |
dc.subject.keywordAuthor | Test Wrapper | - |
dc.subject.keywordAuthor | Scan Test | - |
dc.subject.keywordAuthor | SoC Testing | - |
dc.subject.keywordAuthor | AMBA | - |
dc.subject.keywordAuthor | TIC | - |
dc.subject.keywordAuthor | Test Wrapper | - |
dc.subject.keywordAuthor | Scan Test | - |
dc.identifier.url | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00766492 | - |
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