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Numerical Simulation on Thickness Dependency and Bias Stress Test of Ultrathin IGZO Thin-Film Transistors Via a Solution Process
Lobed, Mohamed; Sengouga, Nouredine;
Kim, Kyung Hwan
; Rim, You Seung
Article
Issue Date
2019
Citation
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE, v.216, no.7
Publisher
WILEY-V C H VERLAG GMBH
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