열처리시간 변화에 의한 CdS 박막 특성에 관한연구A Study on the Characteristics of CdS Thin Film by Annealing Time Change
- Other Titles
- A Study on the Characteristics of CdS Thin Film by Annealing Time Change
- Authors
- 정재필; 박정철
- Issue Date
- Oct-2021
- Publisher
- 한국정보전자통신기술학회
- Keywords
- CdS thin film; ITO glass; multiplex deposition sputter system; solar cells; transmittance
- Citation
- 한국정보전자통신기술학회 논문지, v.14, no.5, pp.438 - 443
- Journal Title
- 한국정보전자통신기술학회 논문지
- Volume
- 14
- Number
- 5
- Start Page
- 438
- End Page
- 443
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/gachon/handle/2020.sw.gachon/82547
- ISSN
- 2005-081X
- Abstract
- 본 논문은 multiplex deposition sputter system을 사용하였고 ITO 유리기판 위에 CdS 박막을 증착하여 투과율을 향상시키고 제작비용을 절감하는데 목적을 두었다. CdS 박막을 제작할 때 열처리시간을 변화시켜 태양전지를 제작할 때 우수한 조건을 찾고자 하였다. 열처리 시간 변화에 따른 두께와 면 저항은 큰 차이가 없는 것으로 관찰되었다. 비저항은 최소값 6.68에서 최대값 6.98로 측정되었다. 열처리 시간이 20분 이상하였을 때 투과율은 75% 이상으로 측정되었다. 열처리시간이 10분일 때 밴드갭은 3.665 eV이고 20분 이상은 3.713 eV로 똑같은 결과로 측정되었다. XRD를 분석한 결과 CdS의 구조는 hexagonal로 나왔으며 다른 불순물이 없이 CdS 박막 만 증착되었다. 반치폭 (FWHM)을 계산한 결과는 열처리시간을 20분으로 하였을 때 0.142로 최대값으로 측정되었고 40분일 때 0.133으로 최소값으로 측정되어 열처리 시간을 변화 주었을 때 반치폭은 큰 차이가 없었다. 입자 크기를 측정한 것으로는 열처리시간을 40분으로 하였을 때 11.65 Å으로 최대값이고 20분일 때 10.93 Å으로 최소값으로 측정되었다.
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