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SCIE
SCOPUS
Yield Prediction for Integrated Circuits Manufacturing Through Hierarchical Bayesian Modeling of Spatial Defects
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Yuan, Tao; Ramadan, Saleem Z.;
Bae, Suk Joo
Article
Issue Date
2011
Citation
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, v.60, no.4, pp.729 - 741
Publisher
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
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