Orbai, A-M; Truedsson, L.; Sturfelt, G.; Nived, O.; Fang, H.; Alarcon, G. S.; Gordon, C.; Merrill, J. T.; Fortin, P. R.; Bruce, I. N., et al.

Cloutier, B. Tessier; Clarke, A. E.; Ramsey-Goldman, R.; Wang, Y.; Foulkes, W.; Gordon, C.; Hansen, J. E.; Yelin, E.; Urowitz, M. B.; Gladman, D., et al.

Chan, K.; Clarke, A. E.; Ramsey-Goldman, R.; Foulkes, W.; Tessier Cloutier, B.; Urowitz, M. B.; Gladman, D.; Nived, O.; Romero-Diaz, J.; Petri, M., et al.

Kale, M.; Ramsey-Goldman, R.; Bernatsky, S.; Urowitz, M. B.; Gladman, D.; Fortin, P. R.; Petri, M.; Yelin, E.; Manzi, S.; Edworthy, S., et al.

Lu, M.; Ramsey-Goldman, R.; Bernatsky, S.; Petri, M.; Manzi, S.; Urowitz, M. B.; Gladman, D.; Fortin, P. R.; Ginzler, E.; Yelin, E., et al.