Wang, S.; Adrianto, I.; Wiley, G. B.; Lessard, C. J.; Kelly, J. A.; Adler, A. J.; Glenn, S. B.; Williams, A. H.; Ziegler, J. T.; Comeau, M. E., et al.

Orbai, A-M; Truedsson, L.; Sturfelt, G.; Nived, O.; Fang, H.; Alarcon, G. S.; Gordon, C.; Merrill, J. T.; Fortin, P. R.; Bruce, I. N., et al.

Urowitz, M. B.; Gladman, D.; Ibanez, D.; Bae, S. C.; Sanchez-Guerrero, J.; Gordon, C.; Clarke, A.; Bernatsky, S.; Fortin, P. R.; Hanly, J. G., et al.

Hanly, J. G.; Urowitz, M. B.; Su, L.; Bae, S-C; Gordon, C.; Clarke, A.; Bernatsky, S.; Vasudevan, A.; Isenberg, D.; Rahman, A., et al.

Ippolito, A.; Wallace, D. J.; Gladman, D.; Fortin, P. R.; Urowitz, M.; Werth, V.; Costner, M.; Gordon, C.; Alarcon, G. S.; Ramsey-Goldman, R., et al.

Namjou, B.; Kothari, P. H.; Kelly, J. A.; Glenn, S. B.; Ojwang, J. O.; Adler, A.; Alarcon-Riquelme, M. E.; Gallant, C. J.; Boackle, S. A.; Criswell, L. A., et al.

Urowitz, M. B.; Gladman, D. D.; Ibanez, D.; Fortin, P. R.; Bae, S. C.; Gordon, C.; Clarke, A.; Bernatsky, S.; Hanly, J. G.; Isenberg, D., et al.

Martins, M.; Williams, A. H.; Comeau, M.; Marion, M.; Ziegler, J. T.; Freedman, B. I.; Merrill, J. T.; Glenn, S. B.; Kelly, J. A.; Sivils, K. M., et al.

Sanchez, Elena; Nadig, Ajay; Richardson, Bruce C.; Freedman, Barry I.; Kaufman, Kenneth; Niewold, Timothy B.; Kamen, Diane L.; Gilkeson, Gary S.; Langefeld, Carl D.; Kimberly, Robert P., et al.

Hanly, J. G.; Urowitz, M. B.; Su, L.; Bae, S. C.; Gordon, C.; Wallace, D. J.; Clarke, A.; Bernatsky, S.; Isenberg, D.; Rahman, A., et al.

Lin, C. P.; Adrianto, I.; Lessard, C. J.; Kelly, J. A.; Kaufman, K. M.; Guthridge, J. M.; Freedman, B. I.; Anaya, J-M; Alarcon-Riquelme, M. E.; Pons-Estel, B. A., et al.

Hanly, J. G.; Urowitz, M. B.; Jackson, D.; Bae, S. C.; Gordon, C.; Wallace, D. J.; Clarke, A.; Bernatsky, S.; Vasudevan, A.; Isenberg, D., et al.

Hanly, J. G.; Urowitz, M. B.; Su, L.; Sanchez-Guerrero, J.; Bae, Sang Cheol; Gordon, C.; Wallace, D. J.; Isenberg, D.; Alarcon, G. S.; Merrill, J. T., et al.

Merrill, J. T.; Burgos-Vargas, R.; Westhovens, R.; Chalmers, A.; D'Cruz, D.; Wallace, D. J.; Bae, S. C.; Sigal, L.; Becker, J. -C.; Kelly, S., et al.