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SCIE
SCOPUS
Dependences of the Electrical Properties on the Diameter and the Doping Concentration of the Si Nanowire Field Effect Transistors with a Schottky Metal-Semiconductor Contact
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You, Joo Hyung; Lee, Se Han; You, Chan Ho; Yu, Yun Seop; Kim, Tae Whan
Article
Issue Date
2010
Citation
JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, v.10, no.5, pp.3609 - 3613
Publisher
AMER SCIENTIFIC PUBLISHERS
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