반도체 회로에서의 내방사선 설계 방법 연구 동향
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 김태영 | - |
dc.contributor.author | 이종호 | - |
dc.contributor.author | 송익현 | - |
dc.date.accessioned | 2023-05-03T13:27:25Z | - |
dc.date.available | 2023-05-03T13:27:25Z | - |
dc.date.created | 2022-10-06 | - |
dc.date.issued | 2022-09 | - |
dc.identifier.issn | 2287-5026 | - |
dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/hanyang/handle/2021.sw.hanyang/185337 | - |
dc.description.abstract | Single-Event Effects(SEE)와 Total Ionizing Dose(TID)와 같은 방사선 유발 열화 현상으로부터 회로의 신뢰성을 확보하는 것이 점점 중요한 문제가 되고 있다. 본 논문은 내방사선 설계를 위한 다양한 최신 기법 중 몇 가지 방안을 살펴보며, 구체적으로 1) 인버스 모드(Inverse mode)의 특성을 이용한 SEE 완화 기법, 2) ESD 회로 기반의 SEE 완화 회로, 3) Flip-Flop(FF)의 SEE 오작동을 방지하기 위한 Radiation-Hardened-By-Design(RHBD) FF 회로, 4) DC-DC 변환기에서 SEE를 완화하는 ASET(Analog Single-Event Transients)을 감지하는 회로, 그리고 5) TID 완화를 위한 P-edge NMOS 회로 기법을 소개한다. 언급된 각 기법의 동작 원리를 설명하고 개선점에 대해 논의한다. | - |
dc.language | 한국어 | - |
dc.language.iso | ko | - |
dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
dc.title | 반도체 회로에서의 내방사선 설계 방법 연구 동향 | - |
dc.title.alternative | Recent Trends in Radiation-Hardened Circuit Design | - |
dc.type | Article | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 송익현 | - |
dc.identifier.doi | 10.5573/ieie.2022.59.9.162 | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지, v.59, no.9, pp.162 - 171 | - |
dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 | - |
dc.citation.title | 전자공학회논문지 | - |
dc.citation.volume | 59 | - |
dc.citation.number | 9 | - |
dc.citation.startPage | 162 | - |
dc.citation.endPage | 171 | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.identifier.kciid | ART002877790 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.description.isOpenAccess | Y | - |
dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
dc.subject.keywordAuthor | Electrostatic discharge(ESD) | - |
dc.subject.keywordAuthor | Inverse mode(IM) | - |
dc.subject.keywordAuthor | Radiation hardening by design(RHBD) | - |
dc.subject.keywordAuthor | Single-event effects(SEE) | - |
dc.subject.keywordAuthor | Total ionizing dose(TID) | - |
dc.identifier.url | https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE11144117&language=ko_KR&hasTopBanner=true | - |
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