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플래시 메모리의 워드라인 스트레스로 인한 신뢰성 저하 메커니즘
- Authors
- 김태환
- Issue Date
- 19-Feb-2016
- Publisher
- (사)한국진공학회
- Citation
- 제50회 한국진공학회 동계정기학술대회
- Conference Name
- 제50회 한국진공학회 동계정기학술대회
- Place
- 웰리힐리파크(강원도 횡성)
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- Appears in
Collections - 서울 공과대학 > 서울 융합전자공학부 > 2. Conference Papers
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