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터널링 산화막의 두께 변화에 따른 charge trap flash 메모리 소자의 retention 특성 메카니즘
- Authors
- 김태환
- Issue Date
- 21-Apr-2010
- Publisher
- 한국 물리학회
- Citation
- 2010년 한국 물리학회 봄 학술논문발표회
- Conference Name
- 2010년 한국 물리학회 봄 학술논문발표회
- Place
- 대전컨벤션센터, 대전, Korea
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- Appears in
Collections - 서울 공과대학 > 서울 융합전자공학부 > 2. Conference Papers
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