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InGaAs/InGaAsP 양자점 시스템의 선택적인 영역에서의 DLTS 측정을 이용한 전기적 특성 연구
- Authors
- 김은규
- Issue Date
- 15-Feb-2008
- Publisher
- 한국진공학회
- Citation
- 제34회 한국진공학회 동계정기학술대회
- Conference Name
- 제34회 한국진공학회 동계정기학술대회
- Place
- 단국대학교 죽전캠퍼스
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- Appears in
Collections - 서울 자연과학대학 > 서울 물리학과 > 2. Conference Papers
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