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CZT 표면상태 및 검출기 성능 상관관계에 대한 연구
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김용균 | - |
| dc.date.accessioned | 2021-08-04T01:39:12Z | - |
| dc.date.available | 2021-08-04T01:39:12Z | - |
| dc.date.issued | 2007-04-19 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.bwise.kr/hanyang/handle/2021.sw.hanyang/67858 | - |
| dc.description.abstract | CZT는 현재 널리쓰이고 있는Si,Ge,등 단워자 반도체나 섬광체를 대체할수 있는 검출기 소재로 평가되고있다. 이전 연구자들의 연구결과에 의하면 CZT 표면을 물리적 polishing 및 화학적 에칭에 의하여 roughness 를 작게 할수록 CZT 계측기의 dark current 가 작아져서 방사선 검출의성능이 향상된다고 알려져 있다. 본연구진은 CZT 단결정에 물리적 polishing 과 화학적 에칭으로 표면상태를 다르게 하였을때 표면상태에 따른 방사선 에너지의 스펙트럼 변화를 살펴보았다. | - |
| dc.title | CZT 표면상태 및 검출기 성능 상관관계에 대한 연구 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.citation.conferenceName | 2007 춘계 한국물리학회 | - |
| dc.citation.conferencePlace | 휘닉스 파크 | - |
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Collections - 서울 공과대학 > 서울 원자력공학과 > 2. Conference Papers
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- Kim, Yong Kyun
- COLLEGE OF ENGINEERING (DEPARTMENT OF NUCLEAR ENGINEERING)