Under Bump Metallurgy의 종류와 리플로우 시간에 따른 Sn 솔더 계면반응Interfacial Reactions of Sn Solder with Variations of Under-Bump-Metallurgy and Reflow Time
- Other Titles
- Interfacial Reactions of Sn Solder with Variations of Under-Bump-Metallurgy and Reflow Time
- Authors
- 박선희; 오태성; G. Englemann
- Issue Date
- 2007
- Publisher
- 한국마이크로전자및패키징학회
- Keywords
- flip chip; Cu UBM; Ni UBM; reflow; intermetallic compound; flip chip; Cu UBM; Ni UBM; reflow; intermetallic compound
- Citation
- 마이크로전자 및 패키징학회지, v.14, no.3, pp.43 - 50
- Journal Title
- 마이크로전자 및 패키징학회지
- Volume
- 14
- Number
- 3
- Start Page
- 43
- End Page
- 50
- URI
- https://scholarworks.bwise.kr/hongik/handle/2020.sw.hongik/23850
- ISSN
- 1226-9360
- Abstract
- 웨이퍼 레벨 솔더범핑시 under bump metallurgy (UBM)의 종류와 리플로우 시간에 따른 Sn 솔더범프의 평균 금속간화합물 층의 두께와 UBM의 소모속도를 분석하였다. Cu UBM의 경우에는 리플로우 이전에 0.6㎛ 두께의 금속간화합물 층이 형성되어 있었으며, 250℃에서 450초 동안 리플로우함에 따라 금속간화합물 층의 두께가 4㎛으로 급격히 증가하였다. 이에 반해 Ni UBM에서는 리플로우 이전에 0.2㎛ 두께의 금속간화합물 층이 형성되었으며, 450초 리플로우에 의해 금속간화합물의 두께가 1.7㎛으로 증가하였다. Cu UBM의 소모속도는 15초 리플로우시에는 100 nm/sec, 450초 리플로우시에는 4.5 nm/sec이었으나, Ni UBM에서는 소모속도가 15초 리플로우시에는 28.7 nm/sec, 450초 리플로우시에는 1.82 nm/sec로 감소하였다.
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