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토양 표면에서의 레이더 산란 계수와 표면 거칠기 측정 길이의 관계에 대한 이론 모델과 측정 데이터의 비교Relation between Radar Backscattering Coefficients and Surface Profile Length for Bare Soil Surfaces Using Theoretical Predictions and Measurement Data
- Other Titles
- Relation between Radar Backscattering Coefficients and Surface Profile Length for Bare Soil Surfaces Using Theoretical Predictions and Measurement Data
- Issue Date
- 2006
- Publisher
- 한국전자파학회
- Keywords
- Backscattering Coefficient; Soil Surface; Roughness Parameters; Profile Length; Backscattering Coefficient; Soil Surface; Roughness Parameters; Profile Length
- Citation
- 한국전자파학회 논문지, v.17, no.12, pp.1181 - 1188
- Journal Title
- 한국전자파학회 논문지
- Volume
- 17
- Number
- 12
- Start Page
- 1181
- End Page
- 1188
- ISSN
- 1226-3133
- Abstract
- 본 논문에서는 토양 표면의 레이더 후방 산란 계수와 표면 거칠기의 관계를 계산해 보고, 측정 길이에 따른 표면 거칠기 변화를 알아본 후에, 측정 길이에 따른 표면 거칠기와 레이더 후방 산란 계수의 관계를 보여준다. 이 연구 결과에 따르면, 측정 길이가 짧아져서 표면 거칠기 값의 변화가 심하다하더라도 계산된 레이더 후방 산란 계수에는 적은 영향밖에 주지 않는다는 것을 보여준다.
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