Moon, T.Y.[Moon, T.Y.]; Seo, S.H.[Seo, S.H.]; Kim, S.H.[Kim, S.H.]; Kim, J.H.[Kim, J.H.]; Kwon, K.H.[Kwon, K.H.]; Jeon, J.W.[Jeon, J.W.]; Hwang, S.H.[Hwang, S.H.]
ArticleIssue Date2008CitationIEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN), pp.1189 - 1193