Kim, J.H.[Kim, J.H.]; Lee, J.[Lee, J.]; Park, S.[Park, S.]; Seo, C.[Seo, C.]; Yun, S.J.[Yun, S.J.]; Han, G.H.[Han, G.H.]; Kim, J.[Kim, J.]; Lee, Y.H.[Lee, Y.H.]; Lee, H.S.[Lee, H.S.]
ArticleIssue Date2022CitationCurrent Applied Physics, v.33, pp.59 - 65PublisherElsevier B.V.