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Improvement method of the machine-model ESD robustness for a smart power IC
Song, J.-K.; Kim, D.-W.; Lung, L.-M.K.W.-Y.; Wee, J.-K.
Conference
Issue Date
2009
Citation
2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2009, pp.507 - 510
ISBN
9781424439102
Place
Suzhou
1
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