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Measurement-based line parameter extraction method for multiple-coupled lines in printed circuit boards
Kim, YJ; Yoon, HS; Moon, G;
Lee, S
; Wee, JK
Article
Issue Date
2003
Citation
IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS, v.E86C, no.8, pp.1649 - 1656
Publisher
IEICE-INST ELECTRONICS INFORMATION COMMUNICATIONS ENG
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