MLC NAND-형 Flash Memory 내장 자체 테스트에 대한 연구MLC NAND-type Flash Memory Built-In Self Test for research
- Other Titles
- MLC NAND-type Flash Memory Built-In Self Test for research
- Authors
- 김진완; 김태환; 장훈
- Issue Date
- Mar-2014
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- Memory Test; MLC NAND Flash memory; BIST(Built-In Self Test); Fault Test
- Citation
- 전자공학회논문지, v.51, no.3, pp.61 - 72
- Journal Title
- 전자공학회논문지
- Volume
- 51
- Number
- 3
- Start Page
- 61
- End Page
- 72
- URI
- http://scholarworks.bwise.kr/ssu/handle/2018.sw.ssu/10231
- ISSN
- 2287-5026
- Abstract
- 임베디드 시스템의 저장매체 시장의 플래시 메모리의 점유율이 증가되고 반도체 산업이 성장함에 따라 플래시 메모리의 수요와 공급이 큰 폭으로 증가하고 있다. 특히 스마트폰, 테블릿 PC, SSD등 SoC(System on Chip)산업에 많이 사용되고 있다. 플래시 메모리는 셀 배열 구조에 따라 NOR-형과 NAND-형으로 나뉘고 NAND-형은 다시 Cell당 저장 가능한 bit수에 따라서 SLC(Single Level Cell)과 MLC(Multi Level Cell)로 구분된다. NOR-형은 BIST(Bulit-In Self Test), BIRA(Bulit-In Redundancy Analysis)등의 많은 연구가 진행되었지만 NAND-형의 경우 BIST 연구가 적다. 기존의 BIST의 경우 고가의 ATE 등의 외부 장비를 사용하여 테스트를 진행해야한다. 하지만 본 논문은 MLC NAND-형 플래시 메모리를 위해 제안되었던 MLC NAND March(x)알고리즘과 패턴을 사용하며 내부에 필요한 패턴을 내장하여 외부 장비 없이 패턴 테스트가 가능한 유한상태머신(Finite State Machine) 기반구조의 MLC NAND-형 플래시 메모리를 위한 BIST를 제안하여 시스템의 신뢰도 향상과 수율향상을 위한 시도이다.
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