이미지 센서 및 모듈의 표준 영상 취득 테스트
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 이성수 | - |
dc.date.available | 2018-05-09T11:21:25Z | - |
dc.date.created | 2018-04-17 | - |
dc.date.issued | 2014-03 | - |
dc.identifier.issn | 1226-7244 | - |
dc.identifier.uri | http://scholarworks.bwise.kr/ssu/handle/2018.sw.ssu/10250 | - |
dc.description.abstract | 일반적으로 이미지 센서 및 모듈의 영상 취득 특성 테스트는 테스트할 이미지 센서 및 모듈의 특성, 해당 센서 및 모듈이 장착될 기기의 사용 목적, 테스트 장비의 기능 등에 따라 세부적인 내용은 많이 다르지만, 산업체에서 자주 사용되어 사실상 표준으로 굳어진 몇몇 테스트는 불량을 판별하기 위한 기준치 등 몇몇 파라미터만 다르게 하여 대부분의 이미지 센서 및 모듈에 적용된다. 본 논문에서는 이들 중에서 대표적인 11개 테스트를 자세히 설명하고, 이를 단일 프레임워크 내에서 간단하고 명확한 형태로 표기하여 테스트 프로그램을 작성할 때의 오류와 노력을 크게 줄이도록 한다. | - |
dc.language | 한국어 | - |
dc.language.iso | ko | - |
dc.publisher | 한국전기전자학회 | - |
dc.relation.isPartOf | 전기전자학회논문지 | - |
dc.subject | standard test | - |
dc.subject | test specification | - |
dc.subject | image sensor | - |
dc.subject | image acquisition characteristics | - |
dc.subject | test equipment | - |
dc.title | 이미지 센서 및 모듈의 표준 영상 취득 테스트 | - |
dc.title.alternative | Standard Image Acquisition Characteristics Tests for Image Sensors and Modules | - |
dc.type | Article | - |
dc.identifier.doi | 10.7471/ikeee.2014.18.1.077 | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 전기전자학회논문지, v.18, no.1, pp.77 - 95 | - |
dc.identifier.kciid | ART001864340 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.citation.endPage | 95 | - |
dc.citation.number | 1 | - |
dc.citation.startPage | 77 | - |
dc.citation.title | 전기전자학회논문지 | - |
dc.citation.volume | 18 | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 이성수 | - |
dc.identifier.url | https://www.kci.go.kr/kciportal/ci/sereArticleSearch/ciSereArtiView.kci?sereArticleSearchBean.artiId=ART001864340 | - |
dc.description.isOpenAccess | N | - |
dc.description.oadoiVersion | published | - |
dc.subject.keywordAuthor | standard test | - |
dc.subject.keywordAuthor | test specification | - |
dc.subject.keywordAuthor | image sensor | - |
dc.subject.keywordAuthor | image acquisition characteristics | - |
dc.subject.keywordAuthor | test equipment | - |
dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
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