Detailed Information
Cited 0 time in 
Cited 0 time in 
Cited 0 time in
Metadata Downloads
NAND Flash Memory Pattern Test를 위한 PMBISTPMBIST for NAND Flash Memory Pattern Test
- Other Titles
- PMBIST for NAND Flash Memory Pattern Test
- Issue Date
- Jan-2014
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- PMBIST(Programmable Memory Built-in Self Test); FSM(Finite State Machine); NAND Flash Memory
- Citation
- 전자공학회논문지, v.51, no.1, pp.79 - 89
- Journal Title
- 전자공학회논문지
- Volume
- 51
- Number
- 1
- Start Page
- 79
- End Page
- 89
- ISSN
- 2287-5026
- Abstract
- 최근 새롭게 보급되는 휴대기기(스마트폰, 울트라북, 태블릿 PC)로 인하여 고용량과 빠른 속도를 원하는 소비자가 증가하고 있다. 이에 따라 Flash Memory의 수요도 지속적으로 증가하고 있다. Flash Memory는 NAND형과 NOR형으로 구분되어 있다. NAND형 Flash Memory는 NOR형 Flash Memory에 비해 속도는 느리지만 가격이 저렴하다. 그렇기 때문에 NAND형 Flash Memory는 Mobile 시장에서 많이 사용되어지고 있다. 그래서 Flash Memory Test를 위한 Fault 검출은 메우 중요하다. 본 논문에서는 Fault 검출 향상을 위한 NAND형 Flash Memory의 Pattern Test를 위한 PMBIST를 제안한다.
- Files in This Item
- Go to Link
Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Related Researcher
- CHANG, HOON
- College of Information Technology (School of Computer Science and Engineering)