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4-레벨 낸드 플래시 메모리에서 오류 발생 패턴 제거 변조 부호

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dc.contributor.author박동혁-
dc.contributor.author이재진-
dc.contributor.author양기주-
dc.date.available2018-05-10T15:02:05Z-
dc.date.created2018-04-17-
dc.date.issued2010-12-
dc.identifier.issn1226-4717-
dc.identifier.urihttp://scholarworks.bwise.kr/ssu/handle/2018.sw.ssu/15403-
dc.description.abstract한 셀에 2비트를 저장하는 낸드 플래시 메모리에서는 한 셀에 저장되는 전압의 양을 4-레벨로 나누어 데이터를 구분한다. 이 4-레벨을 낮은 전압부터 각각 E, P1, P2, P3라고 할 때, 인접한 두 셀이 각각 E와 P3 레벨로 저장하게 되면, 통계적으로 이 부분에서 많은 데이터의 오류가 발생한다. 따라서 본 논문에서는 인접한 두 셀의 값이 E와 P3의 패턴이 연속해서 나오지 않게 하는 부호화 방법을 통하여 연속된 셀에서 E와 P3가 붙어 나오는 패턴을 제거한다. 본 논문에서는 5심볼과 6심볼의 코드워드일 때의 부호/복호 방법을 소개한다. 5심볼을 만드는 부호화 방법은 입력 데이터가 9비트이며, 패리티는 1비트이고 부호율은 0.9이다. 또한, 6심볼을 만드는 부호화 방법은 입력 데이터가 11비트 이며, 패리티는 1비트이며, 부호율은 0.916이다.-
dc.language한국어-
dc.language.isoko-
dc.publisher한국통신학회-
dc.relation.isPartOf한국통신학회논문지C-
dc.subject2bits/cell NAND Flash Memory-
dc.subjectAvoidance Error Pattern Code-
dc.subjectE-P3 or P3-E Error Pattern-
dc.title4-레벨 낸드 플래시 메모리에서 오류 발생 패턴 제거 변조 부호-
dc.title.alternativeModulation code for removing error patterns on 4-level NAND flash memory-
dc.typeArticle-
dc.type.rimsART-
dc.identifier.bibliographicCitation한국통신학회논문지C, v.35, no.12, pp.965 - 970-
dc.identifier.kciidART001518556-
dc.description.journalClass2-
dc.citation.endPage970-
dc.citation.number12-
dc.citation.startPage965-
dc.citation.title한국통신학회논문지C-
dc.citation.volume35-
dc.contributor.affiliatedAuthor이재진-
dc.identifier.urlhttps://www.kci.go.kr/kciportal/ci/sereArticleSearch/ciSereArtiView.kci?sereArticleSearchBean.artiId=ART001518556-
dc.description.isOpenAccessN-
dc.subject.keywordAuthor2bits/cell NAND Flash Memory-
dc.subject.keywordAuthorAvoidance Error Pattern Code-
dc.subject.keywordAuthorE-P3 or P3-E Error Pattern-
dc.description.journalRegisteredClasskci-
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College of Information Technology (Department of Electronic Engineering)
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