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가상 구역에 따른 메모리 자가 치유에 대한 분석 알고리즘
- Issue Date
- 2009
- Publisher
- 대한전자공학회
- Keywords
- BIRA; BISR; Embedded Memory; BIRA; BISR; Embedded Memory
- Citation
- 전자공학회논문지 - SD, v.46, no.12, pp.73 - 79
- Journal Title
- 전자공학회논문지 - SD
- Volume
- 46
- Number
- 12
- Start Page
- 73
- End Page
- 79
- ISSN
- 1229-6368
- Abstract
- 최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리(Embedded Memory)가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분 메모리(Spare Memory)로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분 메모리의 행과 열 메모리 사용으로 고장난 메모리를 고장이 없는 메모리처럼 사용할 수 있도록 여분 메모리 재배치 알고리즘인 MRI를 제안하고자 한다.
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Related Researcher
- CHANG, HOON
- College of Information Technology (School of Computer Science and Engineering)