플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 김지환 | - |
dc.contributor.author | 장훈 | - |
dc.date.available | 2018-05-10T16:49:18Z | - |
dc.date.created | 2018-04-17 | - |
dc.date.issued | 2007 | - |
dc.identifier.issn | 1229-6368 | - |
dc.identifier.uri | http://scholarworks.bwise.kr/ssu/handle/2018.sw.ssu/18118 | - |
dc.description.abstract | 본 논문에서 제안한 FSM 기반의 프로그래머블 BIST(Built-In Self-Test)는 플래시 메모리를 테스트하기 위한 기존의 알고리즘들을 코드화 하여 그중에서 선택된 알고리즘의 명령어 코드를 받아서 플래시 메모리 테스트를 수행한다. 또한 제안하는 구조는 각 알고리즘에 대한 테스트 절차를 간단하게 한다. 이외에도 플래시 메모리 BIST를 재구성하는데 걸리는 시간도 기존의 BIST와 비교해 볼 때 매우 적다. 우리가 제안한 BIST 구조는 자동적으로 Verilog 코드를 생성해주는 프로그래머블 플래시 메모리 BIST 생성기이다. 만약 제안된 방법을 실험하게 되면, 제안된 방법은 이전의 방법들과 비교해서 크기도 더 작을 뿐만 아니라 융통성 면에서도 좋은 성과를 얻었다. | - |
dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
dc.relation.isPartOf | 전자공학회논문지 - SD | - |
dc.subject | 플래시 메모리 | - |
dc.subject | 외란 고장 | - |
dc.subject | FSM 기반의 프로그래머블 BIST(506) | - |
dc.title | 플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트 | - |
dc.type | Article | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 전자공학회논문지 - SD, v.44, no.6, pp.34 - 41 | - |
dc.identifier.kciid | ART001225915 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.citation.endPage | 41 | - |
dc.citation.number | 6 | - |
dc.citation.startPage | 34 | - |
dc.citation.title | 전자공학회논문지 - SD | - |
dc.citation.volume | 44 | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 장훈 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 플래시 메모리 | - |
dc.subject.keywordAuthor | 외란 고장 | - |
dc.subject.keywordAuthor | FSM 기반의 프로그래머블 BIST(506) | - |
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